场发射透射电子显微镜
| 仪器型号 | JEM-F200 |
|---|---|
| 制造商 | 日本JEOL公司 |
| 安装时间 | 2021年11月 |
| 设备配置 | 配有场发射电子枪； BF/ABF/HAADF探测器； 无窗双探测器超级能谱仪(EDS)：探测面积200mm2； Gatan OneView相机； 加速电压：200kV，80kV（可选）。 |
| 功能说明 | 主要用于各种固态材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析，结合高灵敏度的能谱仪实现快速成分分析，配合原位样品杆可实现应力、高温和电压等外场下材料原子尺度晶体结构的实时观察。 |
| 技术指标 |
TEM点分辨率：0.23nm； TEM线分辨率：0.10nm； STEM点分辨率：0.16nm； |