精密离子减薄仪
| 仪器型号 | PIPS II 695 |
|---|---|
| 制造商 | 美国 Gatan 公司 |
| 安装时间 | 2021年11月 |
| 设备配置 |
配备潘宁式离子枪；配备数字变焦的 CCD 光学观察系统；配备液氮冷台控温系统。 |
| 功能说明 | 用于制备高质量的透射电镜样品。利用氩离子对样品表面进行轰击，从而对样品进行离子刻蚀减薄，形成大面积清洁薄区供透射电镜观察。配备低能离子束聚焦功能，可以对 FIB 制备的高能损伤样品进行表面修复。配备温度控制样品台，可避免对温度敏感材料带来温升效应。 |
| 技术指标 |
离子枪束能量： 0.1kV-8kV；离子枪角度： -10°到+10°；样品台旋转： 1-6rpm 连续可调；样品台温度：室温到-196℃连续可调；观察系统： CCD 光学观察系统最高放大倍率2200x。 |