用于除去透射电镜样品及样品杆上的污染，防止由于碳沉积造成图像分辨率降低或对样品微区分析造成误判；可利用该仪器清洗各类光阑等电子显微镜配件； 也可对碳膜进行清洗，增加碳膜的亲水性。