JEM-ARM300F2 冷场发射像差校正透射电子显微镜
JEM-ARM300F2 具有高亮度、高相干性、低能量展宽的冷场发射电子源系统,有照明系统电子束斑校正功能, 可实现亚埃尺度的扫描透射高分辨明场、暗场、高角环形暗场成像功能。同时配合高分辨率的X 射线能谱仪及电子能量损失谱仪,实现研究材料中轻、重元素原子亚埃尺度分辨率下同时成像及元索分布分析, 实现材料中全组元的结构及组成原子级分析。同时利用冷场电子枪的低能量分散的特点,可实现低电压或低电子剂量下,易辐照损伤的材料原子尺度结构及组成分析。配合三维重构样品杆,可实现纳米材料的三维原子成像;配合原位样品杆可实现应力、高温和电压等外场下材料原子尺度晶体结构的实时观察。
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